然而,CT用于電表時(shí)也有一些缺點(diǎn)。首先,外部直流磁場可能會(huì)使CT的磁芯飽和。現(xiàn)在,非常強(qiáng)大的稀土直流磁體很容易為普通民眾所獲得并應(yīng)用于竊電。其次,電源電子設(shè)備也能使CT飽和,例如用于分布式太陽能發(fā)電的直連逆變器,它在線路上產(chǎn)生直流電流。制造商可以通過屏蔽和使用直流兼容CT來克服這兩種影響,但這會(huì)增加成本。有人說,無論是何種CT,都可以找到一個(gè)永磁體來干擾它。第三,CT會(huì)引入一個(gè)與線電流頻率相關(guān)的測量相位延遲。如果應(yīng)用僅關(guān)注線電流的基波成分,那么補(bǔ)償此延遲相對容易。然而,測量諧波成分日益變得重要,而要補(bǔ)償基波和所有諧波的總延遲則非常困難。
創(chuàng)新的隔離式ADC架構(gòu)支持利用分流電阻進(jìn)行三相電能計(jì)量
發(fā)布時(shí)間:2020-08-11 來源:Petre Minciunescu 責(zé)任編輯:wenwei
【導(dǎo)讀】傳統(tǒng)三相電表使用電流互感器(CT)檢測相電流和零線電流。CT的優(yōu)勢之一是能夠在數(shù)百伏的電力線與電表地(通常連接到零線)之間提供固有的電隔離。CT可以實(shí)現(xiàn)良好的線性度;通過調(diào)整匝數(shù)比和負(fù)載電阻,可以靈活地測量各種類型的電流。
然而,CT用于電表時(shí)也有一些缺點(diǎn)。首先,外部直流磁場可能會(huì)使CT的磁芯飽和。現(xiàn)在,非常強(qiáng)大的稀土直流磁體很容易為普通民眾所獲得并應(yīng)用于竊電。其次,電源電子設(shè)備也能使CT飽和,例如用于分布式太陽能發(fā)電的直連逆變器,它在線路上產(chǎn)生直流電流。制造商可以通過屏蔽和使用直流兼容CT來克服這兩種影響,但這會(huì)增加成本。有人說,無論是何種CT,都可以找到一個(gè)永磁體來干擾它。第三,CT會(huì)引入一個(gè)與線電流頻率相關(guān)的測量相位延遲。如果應(yīng)用僅關(guān)注線電流的基波成分,那么補(bǔ)償此延遲相對容易。然而,測量諧波成分日益變得重要,而要補(bǔ)償基波和所有諧波的總延遲則非常困難。
其它電流傳感器在三相電表應(yīng)用中使用較少,包括羅氏線圈等di/dt傳感器或霍爾效應(yīng)傳感器。雖然這些傳感器在某些應(yīng)用中具有優(yōu)勢,但也存在特殊的困難。例如,羅氏線圈具有出色的線性度,可以檢測非常高的電流,但難以制造,而且難以實(shí)現(xiàn)良好的抗擾度,不適合精確的低電流測量。在防竊電方面,羅氏線圈也容易受交流磁場干擾?;魻栃?yīng)傳感器要求對溫度失調(diào)進(jìn)行主動(dòng)補(bǔ)償,而且本身很容易受磁場影響。
分流電阻與三相電能計(jì)量
近年來,在成本、磁場抗擾度和尺寸等因素的推動(dòng)下,分流電阻在單相電表中的使用迅速增加。許多情況下,單相電表以線電壓為基準(zhǔn),因而無需額外的隔離。在三相電表中,必須在各分流電阻與電表內(nèi)核之間提供一個(gè)隔離柵,這是嚴(yán)重的挑戰(zhàn)。熱量也是一個(gè)問題,迫使分流電阻一般只能用于最大電流不超過120 A的電表。我們先考慮一個(gè)三相系統(tǒng)的A相及其負(fù)載。假設(shè)利用分流電阻來檢測相電流(圖1)。
我們先考慮一個(gè)三相系統(tǒng)的A相及其負(fù)載。假設(shè)利用分流電阻來檢測相電流(圖1)。
圖1. 利用分流電阻檢測相電流時(shí)的A相電流和電壓檢測
這恰好是一個(gè)單相電表配置:分流電阻位于電力線上,一個(gè)分壓器檢測相至零線電壓。分流電阻和分壓器上的電壓由一個(gè)模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)檢測。地為分流電阻與分壓器共用的極點(diǎn)。單相電表大部分用于住宅,其最大電流一般低于120 A。這一限制加上低成本要求,使得分流電阻成為單相電能計(jì)量中使用最廣泛的電流傳感器。
所有三相都復(fù)制這一方案,各ADC有其自己的地(圖2)。
圖2. 利用分流電阻檢測相電流時(shí)的三相電流和電壓檢測
管理所有活動(dòng)的微控制器(MCU)與零線處于相同的電位,為了在ADC與MCU之間進(jìn)行通信,必須隔離數(shù)據(jù)通道。這樣,每個(gè)ADC都有其自己的隔離電源(圖3)。
圖3. 具有分流電阻、獨(dú)立電源和隔離通信的三相電表
這種電表架構(gòu)已在使用:雙通道ADC利用光耦合器或芯片級變壓器,跨越隔離柵將信息串行傳輸?shù)組CU。隔離電源利用獨(dú)立器件或采用芯片級變壓器的隔離DC-DC轉(zhuǎn)換器來構(gòu)建。
理想情況下,所有相電流和電壓都應(yīng)同步采樣,以便利用瞬時(shí)值進(jìn)行全面的三相分析。但是,各相的ADC讀數(shù)完全獨(dú)立,因?yàn)椴淮嬖贏DC同步。這是這種架構(gòu)的第一個(gè)局限。使用電流互感器或羅氏線圈的電表則不存在這種問題,因?yàn)樗鼈兛梢允褂靡粋€(gè)計(jì)量模擬前端(AFE)來同時(shí)讀取所有相電流和電壓。
這種架構(gòu)的另一個(gè)問題是高器件數(shù):一個(gè)MCU、三個(gè)ADC、三個(gè)多通道數(shù)據(jù)隔離器以及四個(gè)電源。使用CT的電表不存在這個(gè)問題,因?yàn)殡娐钒逋ǔ>哂幸粋€(gè)MCU、一個(gè)計(jì)量AFE和一個(gè)電源。
那么,如何構(gòu)建一款具有分流電阻的優(yōu)勢,器件數(shù)對于這種架構(gòu)而言最少(即一個(gè)MCU、一個(gè)電源和三個(gè)ADC),并且能對所有相電流和電壓同步采樣的電表呢?
隔離式ADC架構(gòu)
答案是構(gòu)建一種集成至少兩個(gè)ADC、一個(gè)隔離式DC-DC轉(zhuǎn)換器和數(shù)據(jù)隔離器,并能使屬于不同芯片的ADC同步采樣數(shù)據(jù)的芯片(圖4)。MCU的電源VDD也為此芯片供電。采用芯片級變壓器技術(shù)的隔離式DC-DC轉(zhuǎn)換器為ADC的第一級提供隔離電源。一個(gè)ADC檢測分流電阻上的電壓,另一個(gè)ADC利用分壓器檢測相至零線電壓。由分流電阻極點(diǎn)之一所確定的地就是芯片隔離側(cè)的地。ADC為sigma-delta型,僅第一級放在芯片的隔離側(cè)。第一級輸出的位流經(jīng)過芯片級變壓器,后者是隔離數(shù)據(jù)通信通道的一部分。芯片的非隔離側(cè)收到位流,濾波后將其變?yōu)?4位字,然后通過SPI串行端口提供給外部。
圖4. 新型ADC架構(gòu)包括雙通道ADC、數(shù)據(jù)隔離和一個(gè)隔離式DC-DC轉(zhuǎn)換器
芯片級變壓器技術(shù)對這種新型ADC架構(gòu)的貢獻(xiàn)最大。與光耦合器相比,ADI公司獲得專利的iCoupler®數(shù)字隔離器更可靠、尺寸更小、功耗更低、通信速度更快、時(shí)序精度更佳。但這還不夠。隔離式sigma-delta調(diào)制器上 市已久,采用光耦合器或芯片級變壓器。芯片級變壓器技術(shù)的最重要貢獻(xiàn)是伴隨isoPower®隔離式DC-DC轉(zhuǎn)換器,它可以與ADC、數(shù)字模塊、隔離數(shù)據(jù)通道一同集成到一個(gè)表貼薄型封裝中。
芯片級變壓器的核心是空氣,因此iCoupler數(shù)字隔離器和isoPower隔離式DC-DC轉(zhuǎn)換器根本不受永磁體的影響,使得電表這一側(cè)完全不受直流磁場干擾。這種變壓器對交流磁場同樣具有高抗擾度。線圈面積非常小,要影響isoPower線圈運(yùn)行,必須產(chǎn)生一個(gè)10 kHz、2.8 T的磁場。換言之,為了影響芯片級變壓器的行為,必須讓69 kA的10 kHz電流通過一根導(dǎo)線,并讓該導(dǎo)線與芯片相隔5 mm。
信息利用極高頻PWM脈沖傳輸?shù)礁綦x柵另一側(cè)。由此產(chǎn)生的高頻電流會(huì)在電路板中傳播,引起邊沿和偶極子輻射。隔離式DC-DC轉(zhuǎn)換器的負(fù)載僅由sigma-delta ADC的第一級構(gòu)成,其幅度是已知的。因此,線圈是針對已知負(fù)載進(jìn)行設(shè)計(jì),從而可以降低一般與DC-DC轉(zhuǎn)換器相關(guān)的輻射,并且無需四層電路板。使用這種架構(gòu)的IC時(shí),電表制造商可以使用兩層電路板,并通過所需的CISPR 22 Class B標(biāo)準(zhǔn)。
為使與MCU的接口盡可能簡單,芯片的數(shù)字模塊對來自第一級的位流進(jìn)行濾波,并通過簡單的從機(jī)SPI串行端口提供24位ADC輸出。電表每一相都有一個(gè)隔離式ADC,因此獲得一致ADC輸出的挑戰(zhàn)仍未解決。如果采用同一時(shí)鐘工作,則所有相上的ADC第一級可以在同一時(shí)刻采樣。如果圖4中的CLKIN信號產(chǎn)生自MCU,則這很容易實(shí)現(xiàn)。另一個(gè)方案是使用一個(gè)晶振為一個(gè)芯片產(chǎn)生時(shí)鐘,然后利用緩沖CLKOUT信號為所有其它隔離式ADC提供時(shí)鐘。控制所有隔離式ADC以在同一時(shí)刻產(chǎn)生ADC輸出?,F(xiàn)在,電表就能利用分流電阻檢測電流,執(zhí)行精確、全面的三相分析。
圖5顯示一款采用三個(gè)隔離式ADC的三相電表。該電表僅有一個(gè)電源為MCU和隔離式ADC供電。MCU利用SPI接口從各IC讀取ADC輸出。
圖5. 采用新型隔離式ADC的三相電表
上面的說明假設(shè)利用外部MCU執(zhí)行計(jì)量計(jì)算。對于希望解決方案包括計(jì)量計(jì)算的電表制造商, 可以將隔離式ADC耦合到一個(gè)IC以執(zhí)行所有計(jì)量計(jì)算,如圖6所示。
圖6. 采用新型隔離式ADC和計(jì)量IC的三相電表
基于此架構(gòu)的新產(chǎn)品
此架構(gòu)已被ADI公司的一系列新產(chǎn)品采用:ADE7913、ADE7912、ADE7933和ADE7932。圖7顯示了ADE7913的框圖。它與圖4非常相似,但有一個(gè)額外ADC通道用于檢測與溫度傳感器復(fù)用的輔助電壓。該輔助電壓可以是斷路器上的電壓,溫度傳感器可用于校正分流電阻的溫度變化。ADE7912是一個(gè)變體,無輔助電壓測量功能,但有溫度傳感器。
圖7. 基于此架構(gòu)的新型ADE7913隔離式ADC
ADE7933和ADE7932將SPI接口替換為位流接口,其余特性分別與ADE7913和ADE7912相同。它們就是圖6所示的隔離式ADC。圖中的計(jì)量IC已通過ADE7978實(shí)現(xiàn)。
結(jié)束語
本文說明了一種新型隔離式ADC架構(gòu)。它包含一個(gè)isoPower隔離式DC-DC轉(zhuǎn)換器,利用MCU電源為隔離柵另一側(cè)的多通道sigma delta ADC第一級供電。ADC輸出的位流經(jīng)過iCoupler數(shù)據(jù)隔離器,由數(shù)字模塊接收。此模塊對其進(jìn)行濾波,產(chǎn)生24位ADC輸出,可利用簡單的SPI接口讀取。一個(gè)ADC可以測量經(jīng)過一個(gè)分流電阻的電流,第二個(gè)ADC可以利用分壓器測量相至零線電壓,第三個(gè)ADC可以測量輔助電壓或溫度傳感器。它支持三相電表使用分流電阻,確保完全不受直流和交流磁場干擾,執(zhí)行電流檢測時(shí)不會(huì)產(chǎn)生任何相移,同時(shí)可降低系統(tǒng)總成本。小尺寸解決方案確保電路板非常小,只需安裝非常少的器件。集成式isoPower芯片級變壓器針對已知ADC負(fù)載而設(shè)計(jì),輻射降至最低,并通過測試,利用兩層電路板即可達(dá)到CISPR 22 Class B標(biāo)準(zhǔn)。
當(dāng)然,使用分流電阻的電流檢測并不局限于電能計(jì)量應(yīng)用,電能質(zhì)量監(jiān)控、太陽能逆變器、過程監(jiān)控和保護(hù)設(shè)備均可受益于這種新型ADC架構(gòu)。
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