有個(gè)潛在問題卻往往被忽視,即儀表放大器中存在的射頻整流問題。當(dāng)存在強(qiáng)射頻干擾時(shí),集成電路可能對干擾進(jìn)行整流,然后以直流輸出失調(diào)誤 差表現(xiàn)出來。儀表放大器輸入端的共模信號通常被其共模抑制的性能衰減了。射頻整流仍然會發(fā)生,因?yàn)榧词棺詈玫膬x表放大器在信號頻率高于20 kHz時(shí),實(shí)際上也不能抑制共模噪聲。放大器的輸入級可能對強(qiáng)射頻信號進(jìn)行整流,然后以直流失調(diào)誤差表現(xiàn)出來。一旦經(jīng)過整流后,在儀表放大器輸出端的低通 濾波器將無法消除這種誤差。如果射頻干擾為間歇性,那么它會導(dǎo)致無法被覺察到的測量誤差。
設(shè)計(jì)實(shí)用的射頻干擾濾波器
解決這一問題的最實(shí)用方案是在儀表放大器之前 使用一個(gè)差分低通濾波器,以對射頻信號進(jìn)行衰減。該濾波器有三個(gè)作用:盡可能多地消除輸入線路中的射頻能量;使每條線路與接地(共用)之間的交流信號保持 平衡;并在整個(gè)測量帶寬內(nèi)維持足夠高的輸入阻抗,以避免增加信號源的負(fù)載。
圖1是多種差分射頻干擾濾波器的基本框圖。圖中所示元件值均針對AD8221選擇,AD8221的–3dB典型帶寬值為:
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適用于AD620系列儀表放大器的射頻干擾抑制電路
圖3是針對通用型儀表放大器(如AD620系列)的電路,與AD8221系列相比,這類儀表放大器的噪聲電平較高(12 nVHz)、帶寬較低。相應(yīng)地,這類儀表放大器使用了相同的輸入電阻,但電容C2的值大約增加5倍,達(dá)0.047 F,以便提供足夠的射頻衰減。采用圖中所示值時(shí),電路的–3 dB帶寬約為400Hz;通過將R1和R2的電阻值降至2.2 k ,可將帶寬提高到760 Hz。需要注意的是,增加帶寬是要付出代價(jià)的,要求儀表放大器前面的電路驅(qū)動的阻抗載荷較低,因此會在一定程度上降低輸入過載保護(hù)性能。
有些儀表放大器比其它放大器更容易發(fā)生射頻整流,因而需要采用更強(qiáng)的濾波器。輸入級工作電流較低的微功耗儀表放大器(如AD627)即是一個(gè)很好的例 子。增加兩只電阻R1a/R1b的值以及/或者電容C2的值這種簡單的方法可提高射頻衰減,但代價(jià)是信號帶寬降低。由于AD627儀表放大器與通用型集成 電路(如AD620系列器件)相比,具有更高的噪聲(38nV Hz),因此可采用電阻值較高的輸入電阻,而不會大幅降低電路的噪聲性能。圖4對圖1所示基本RC抗射頻干擾電路進(jìn)行了修改,采用電阻值更高的輸入電阻。
用于AD623儀表放大器的射頻干擾濾波器
圖5顯示的是建議與AD623儀表放大器搭配使用的抗射頻干擾電路。由于這種器件與AD627相比,較難受到射頻干擾的影響,因此可將輸入電阻的值從20 k 降至10 k ,結(jié)果會增加電路的信號帶寬,降低電阻的噪聲貢獻(xiàn)。此外,10k 電阻還可提供極其有效的輸入保護(hù)。采用圖中所示值時(shí),濾波器的帶寬約為400Hz。當(dāng)增益為100、輸入為1Vp-p時(shí),最大直流失調(diào)電壓小于1 V RTI。增益不變時(shí),電路的射頻信號抑制優(yōu)于74 dB。
AD8225射頻干擾濾波器電路
圖6顯示的是針對這種儀表放大器的推薦射頻干擾濾波器。AD8225儀表放大器增益固定為5,且較AD8221更易受射頻干擾的影響。如不采用射頻干 擾濾波器,當(dāng)輸入2 Vp-p、10 Hz至19 MHz正弦波時(shí),這種儀表放大器測得的直流失調(diào)電壓約為16 mV RTI。通過使用電阻值更大的電阻,該濾波器可得到比AD8221電路更高的射頻衰減:用10 k 代替4 k 。由于AD8225具有較高的噪聲電平,因此這是可以接受的。若使用濾波器,則直流失調(diào)電壓誤差可忽略。
作為RC輸入濾波器的替代方案,可在儀表放大器的前面連接一個(gè)商用共模射頻扼流圈,如圖7所示。共模扼流圈是一種采用共用鐵芯的雙路繞組射頻扼流圈。 兩個(gè)輸入端的任何共模輸入射頻信號都會被扼流圈衰減。共模扼流圈以少量元件提供了一種簡單的射頻干擾抑制方式,同時(shí)獲得了更寬的信號通帶,但這種方法的有 效性取決于所用共模扼流圈的質(zhì)量,最好選用內(nèi)部匹配良好的扼流圈。使用扼流圈的另一潛在問題是無法像RC射頻干擾濾波器那樣提高輸入保護(hù)功能。采用射頻扼 流圈、額定增益為1000的AD620儀表放大器,輸入1 V p-p共模正弦波時(shí),圖7所示電路可使直流失調(diào)電壓降至低于4.5 V RTI 的水平。高頻共模抑制比也大幅降低,如表I所示。
射頻干擾測試
圖8顯示的是一種用于射頻干擾抑制測試的典型設(shè)置。若要測試這些電路的射頻干擾抑制情況,請用極短的引線將兩個(gè)輸入端連接起來。用一條50 端接電纜將優(yōu)質(zhì)正弦波發(fā)生器連接到該輸入端。
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